晶圓片表麵檢測燈半導體表麵瑕疵檢查燈 表麵檢查燈廠家 黃綠光/白光檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈LUYOR-3318係列是一款黃綠光表麵檢查燈（或者是白光），又叫半導體目檢燈，檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表麵折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表麵的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統的照明設備和光學係統機台，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表麵、部件表麵的瑕疵，極大的節省了一般工廠的采購成本。 LUYOR-3318表麵檢查燈采用人眼敏感510-590NM之間波長光，來做簡單與明確的判別，可檢查到1um以下的刮痕或微粒子，並且具有綠光和黃光2種顏色的複合光，幾乎可檢測出塵埃，大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX，可以檢測1μ的表麵髒汙，比傳統的表麵檢查燈，效用增強10倍.LUYOR-3318半導體目檢燈可根據使用場景，使用便攜手持式或桌麵式（上在底座上即可）。
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1、測試精度：可檢測出1um以下的缺陷瑕疵
2、光源：人眼易於察覺的綠光和黃光2種顏色的複合光
3、檢查係統帶工業相機，可拍攝瑕疵點
4、樣式靈活，可手持式和桌麵放置解放雙手
5、可調節燈光照射範圍
半導體晶圓片缺陷檢測燈應用
LCD濾光片、偏光板。
晶圓、半導體。
玻璃或是金屬表麵。
上列物品的刮痕及灰塵檢查。
晶圓片表麵檢測燈特點
特殊波長，主波長為546、578nm知黃綠光且不傷人眼。
藉由人眼對黃綠光的高感度來檢查10um以下的刮痕或灰塵。
主機和光線部分為分離是可任意調整照射角度。
採用電子點燈方式，強度可任意調整
檢查精密加工表麵的瑕疵、汙點、異物等
快速無損檢測小至10微米的瑕疵、小顆粒
有效地探測出生產過程是早期的汙物，節省生產時間及不必要的成本
黃色濾色片濾掉波長小於500nm的光線，防止產生熒光幹擾
高對比度的光線能清晰檢測到精細的表麵粒子
燈頭人體工學設計，易於操作
晶圓片表麵檢測燈檢察對象
矽和玻璃晶圓、液晶濾色器、玻璃鏡頭、光罩、電影、陶瓷、圓盤、金屬表麵（鋁，不鏽鋼，銅等）、陰極射線管、觸摸屏、太陽能電池、汽車、家電、建築內部材料、光麵紙、熱轉印膜、版、電子元器件等。
表麵瑕疵檢查燈利用適合的LED燈源，通過光學透鏡和濾光片折射出特殊的光源，照在工件表麵折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表麵的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。表麵瑕疵檢查燈用於液晶玻璃、汽車玻璃、手機屏幕、基材、半導體矽晶圓片（晶圓/晶片）、柔性基板表麵瑕疵檢查，這麼多廠家為什麼要選擇上海峰誌儀器有限公司？
上海峰誌儀器有限公司表麵瑕疵檢查燈采用人眼敏感的光線：綠光/黃光/黃綠複合光，表麵瑕疵檢查燈照射在被檢查的工件上，人眼能夠快速的檢查出瑕疵
上海峰誌儀器有限公司檢查燈可檢測出1um的瑕疵（微塵、凹凸、油墨、刮痕……）
上海峰誌儀器有限公司表麵玻璃檢查燈每個LED前麵通過添加3-4個不同的光學透鏡或鏡片，通過不同的角度、gaoduguangxuetoujinghejingpiandezuhe，keyianzhaokehudeyaoqiurenweidezhizaochuteshudeguangyuan，womenbiaomianjianzhadengdezhaodubishimianshangtongleidejianzhadengzhaodudouyaogao，liru：我們公司產品LUYOR-3318桌麵式表麵檢查燈照度可以達到32000lux（45cm處）、55000lux（30cm處），可以檢測出小於1um的微粒或者刮痕，幾乎可檢測出塵埃。 上海峰誌儀器有限公司根據應用不同場景，提供不同的樣式，不同的供電（直流/交流）方式，訂製……服務。樣式主要有手電筒式、手持式、懸掛式、燈條式等等。
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